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電子萬能試驗(yàn)機(jī)CS5530_F1芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)功能
電子萬能試驗(yàn)機(jī)CS5530_F1芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)功能：
CS5530_F1芯片內(nèi)共有命令、功能設(shè)置、偏移、增益、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換等五個(gè)寄存器，這些都是一臺精度較高的電子萬能試驗(yàn)機(jī)所應(yīng)具備的功能。
電子萬能試驗(yàn)機(jī)CS5530_F1芯片命令寄存器為8位，可讀/寫。每次對CS5530_F1的訪問都必須先向此寄存器寫入命令字。寫入的命令字決定下一步操作是針對偏移、增益、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、功能設(shè)置中哪一個(gè)寄存器，是讀操作還是寫操作。通過該寄存器還可以完成偏移、增益的標(biāo)定，發(fā)送初始化所需要的脈沖序列。功能設(shè)置寄存器為32位，可讀/寫。該寄存器功能強(qiáng)大，負(fù)責(zé)A/D各種模式的設(shè)置。對其讀/寫必須先寫命令寄存器。偏移寄存器為32位，可讀/寫，芯片初始化時(shí)可完成數(shù)據(jù)偏移量的修正。電子萬能試驗(yàn)機(jī)增益寄存器為32位，可讀/寫，芯片初始化時(shí)完成模擬輸入數(shù)據(jù)增益的確定。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器為32位，只讀，前24位為轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)，后8位為數(shù)據(jù)溢出標(biāo)志。
主營產(chǎn)品：
拉力機(jī) 拉力試驗(yàn)機(jī) 萬能試驗(yàn)機(jī) 萬能材料試驗(yàn)機(jī) 電子拉力試驗(yàn)機(jī) 電子拉力機(jī) 電子萬能試驗(yàn)機(jī) 老化試驗(yàn)箱
